ИК-микроскоп SpotLight 400

 

Система Spotlight 400 – прибор, обладающий высокой скоростью сбора данных и непревзойденной чувствительностью. С его помощью можно получать изображения поверхности площадью до 1,64 см². Данные отображаются на мониторе в режиме реального времени. Патентованный детектор Duet, объединяющий в единое устройство матричный и точечный МСТ детекторы, обеспечивает работу прибора как в режиме ИК‐изображения, так и традиционном режиме сканирования по точке и линии, а также работу в режимах микро‐НПВО и НПВО‐изображения.

С помощью системы Spotlight 400 в течение нескольких минут можно получить уникальную информацию о химическом составе образцов, выявить гомогенные области и определить неоднородности в составе и структуре изучаемых материалов, получив таким образом важную информацию о составе образца, дефектах и примесях. Применение уникальной системы НПВО‐ изображения позволяет повысить пространственное разрешение до 3 мкм, что достижимо только на электронных микроскопах.

Технические характеристики